National Instruments, proveedor de sistemas basados en plataforma que permiten a los ingenieros y científicos solucionar los mayores retos de ingeniería del mundo, anuncia su nuevo sistema de pruebas inalámbricas Wireless Test System (WTS), una solución que reduce drásticamente el coste de la prueba de fabricación inalámbrica de gran volumen.
Las empresas, aunque se enfrentan a la creciente complejidad de la prueba inalámbrica, pueden reducir con confianza los costes de las pruebas y multiplicar el rendimiento en la planta de producción con un sistema optimizado para la velocidad de medida y la prueba paralela.
Las tendencias, como el Internet de las Cosas (IoT), harán que cada vez más dispositivos incluyan la funcionalidad de sensor y RF, que tradicionalmente ha sido caro de comprobar. Para seguir siendo rentables en el futuro, las empresas deberán volver a considerar su enfoque para la prueba inalámbrica y adoptar nuevos paradigmas. Dado que el sistema de pruebas inalámbricas WTS está fabricado en la plataforma PXI probada en el sector y respaldado por la experiencia del mercado de NI, se espera que tenga un impacto significativo en la rentabilidad del IoT.
Características del nuevo sistema de pruebas inalámbricas
El WTS combina los últimos avances en hardware PXI para ofrecer una única plataforma de pruebas multiestándar, multi-DUT y multipuerto. Cuando se utiliza con software de secuencias de pruebas flexibles, como el módulo de prueba inalámbrico TestStand, los fabricantes pueden mejorar de forma significativa la utilización de instrumentos a la hora de probar varios dispositivos en paralelo.
Se integra fácilmente en una línea de fabricación con secuencias de prueba listas para ejecutarse para dispositivos que utilizan conjuntos de chips de proveedores como Qualcomm y Broadcom, así como el control de automatización remota y DUT integrado.
El sistema de pruebas inalámbricas es el último sistema de NI construido en el hardware PXI y en el software LabVIEW y TestStand. Es compatible con estándares inalámbricos de LTE Advanced a 802.11ac para Bluetooth Low Energy, está diseñado para la prueba de fabricación de puntos de acceso WLAN, teléfonos móviles, sistemas de información de entretenimiento y otros dispositivos multiestándar, como estándares de teléfonos móviles, conectividad inalámbrica y navegación.
La tecnología del transceptor de señales de vector – PXI diseñado con software dentro del sistema de pruebas inalámbricas ofrece gran rendimiento RF en el entorno de prueba de fabricación y una plataforma que puede escalarse con los requisitos cambiantes de la prueba de RF.
